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Fecha y hora | Miniatura | Dimensiones | Usuario | Comentario | |
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actual | 09:18 12 sep 2011 | 1072 × 1442 (345 kB) | Materialscientist | {{Information |Description ={{en|1=Scanning transmission electron microscope (200 kV Jeol prototype) equipped with a 3rd-order spherical aberration corrector.}} |Source ={{own}} (transfer from en.wiki) |Author =[[User:Materialscientist| |
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